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Zimpeck, Alexandra Lackmann; Meinhardt, Cristina; Butzen, Paulo Francisco
(2014)
Os avanços tecnológicos em circuitos integrados tem como foco principal a redução da dimensão dos transistores. No entanto, esta redução traz consequências indesejáveis, como o possível aumento no número de falhas. Neste ...
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Violante, Massimo; Meinhardt, Cristina; Reis, Ricardo; Reorda, Matteo Sonza
(2011)
Nowadays, a number of processor cores are available, either as soft intellectual property (IP) cores or as hard macros that can be employed in developing new systems on a chip. Developers of applications targeting harsh ...
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Meinhardt, Cristina; Zimpeck, Alexandra Lackmann; Reis, Ricardo Augusto da Luz
(2014)
This work evaluates the impact on ION and IOFF currents of variations in process parameters for a set of predictive FinFET technologies from 20 nm to 7 nm. The main contribution of the present study is to identify relevant ...
