Abstract:
A garantia do desempenho, da acurácia e dos baixos custos na produção em larga escala de circuitos integrados (CI) é influenciada pelo teste, sendo essa uma rotina crucial no processo de desenvolvimento de CIs. As métricas de testabilidade permitem melhorias no projeto de CIs. Durante o estudo das métricas de testabilidade no método SCOAP pelo autor, foi observada a falta de uma metodologia padrão para obtenção das equações para cálculo da controlabilidade e observabilidade para uma função lógica qualquer. Deste modo, este trabalho apresenta uma metodologia para obtenção destas equações para qualquer função lógica. A comparação dos resultados obtidos com os disponíveis na literatura mostrou que os objetivos parciais foram alcançados. Além disso, foi desenvolvido um software para automatizar a obtenção das métricas de testabilidade em circuitos com os métodos CAMELOT e SCOAP. Ambos métodos se mostraram eficazes para apontar topologias de CIs melhor projetadas com foco na testabilidade.
Ensuring the performance, accuracy and low costs of large-scale production of integrated circuits (IC) is influenced by test, which is a crucial routine in IC developing process. Testability measures allows improvements in IC design. This works author observed the lack of a standard methodology to obtain the equations to calculate the controllability and observability of combinational circuits for any logical function with the SCOAP method. Thus, this work presents a methodology for obtaining these equations for any logical function. The comparison of the results obtained with those available in the literature showed that the objectives were achieved. In addition, a software was developed to automate the generation of testability metrics for ICs with the CAMELOT and SCOAP methods. Both methods shown effective for pointing out better designed IC topologies focusing on testability
