Browsing C3 - Centro de Ciências Computacionais by Subject "Integrated circuits (Testing)"
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Uma análise sobre a eficiência de geradores automáticos de padrões de teste híbridos
(2018)O processo de teste de circuitos integrados tem grande importância para detectar possíveis erros gerados por sistemas digitais, especialmente quando se trata de aplicações críticas como em sistemas médicos e aeroespaciais. ...