dc.contributor.author |
Franco, Denis Teixeira |
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dc.contributor.author |
Naviner, Jean-François |
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dc.contributor.author |
Naviner, Lirida Alves de Barros |
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dc.date.accessioned |
2012-01-04T14:02:16Z |
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dc.date.available |
2012-01-04T14:02:16Z |
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dc.date.issued |
2007 |
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dc.identifier.citation |
FRANCO, Denis Teixeira; NAVINER, Jean-François; NAVINER, Lirida. Chemins de données robustes pour les systèmes de traitement du signal. In: Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique, 2007. Disponível em: <http://www.tsi.enst.fr/publications/enst/inproceedings-2007-6996.pdf>. Acesso em: 13 dez. 2011. |
pt_BR |
dc.identifier.uri |
http://repositorio.furg.br/handle/1/1690 |
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dc.description.abstract |
Les circuits int´egr´es CMOS ont connu une ´evolution constante depuis quelques d´ecennies, mais l’arriv´ee aux dimensions nanom´etriques pose des probl`emes de plus en
plus complexes. Parmi les probl`emes anticip´es, le rendement de fabrication et la fiabilit´e d’op´eration ont d´ej`a montr´e leurs effets et compliquent s´erieusement l’emploi des nouvelles technologies. Cette menace oblige`a un changement du flux traditionnel de projet des
syst`emes int´egr´es, en consid´erant la fiabilit´e et le rendement comme des contraintes du circuit d`es le d´ebut
du d´eveloppement. Dans cet article nous pr´esentons le d´ebut de l’´etude d’une architecture reconfigurable pour la mise en oeuvre des syst`emes de traitement du signal.
Telle architecture utilisera la reconfigurabilit´e pour g´erer le probl`eme du rendement de fabrication et int´egrera des
circuits auto-contrˆolables pour assurer la fiabilit´e. |
pt_BR |
dc.language.iso |
fra |
pt_BR |
dc.rights |
open access |
pt_BR |
dc.title |
Chemins de données robustes pour les systèmes de traitement du signal |
pt_BR |
dc.type |
conferenceObject |
pt_BR |